DX-30SST 铁损耗测试仪
DX - 30SST铁损测试仪：以爱泼斯坦方圈等为依据，快速检测硅钢片铁损及磁感应强度
DX - 30SST铁损测试仪,爱泼斯坦方圈,标准磁导计,硅钢片,铁损测量,质量比总损耗,磁感应强度,小型磁导率仪,单样品测量,不合格样品检测
DX - 30SST铁损测试仪以爱泼斯坦方圈或标准磁导计为检验硅钢片铁损的依据。它能测量取向和非取向硅钢片的质量比总损耗Ps和磁感应强度Bm。采用小型磁导率仪设计，可确定有效磁路长度并进行空气磁通补偿，满足单样品直接测量，能迅速检测出不合格样品。
